Model: D8 Advance
Nhà sản xuất: Bruker AXS
Năm sản xuất: 2022
Tính năng
– Nghiên cứu trong lĩnh vực vật liệu và màng mỏng xác định pha, phân tích pha định lượng của vật liệu tinh thể bột và màng mỏng.
– Phân tích phase, phân tích định lượng trong hỗn hợp nhiều phase, độ tinh khiết và phân tích vi cấu trúc (kích thước tinh thể) của vật liệu tinh thể và vô định hình ở dạng khối, bột và màng mỏng phục vụ nghiên cứu cấu trúc vật liệu trong các lĩnh vực khoa học vật liệu, hóa học, tinh thể học, phát triển thuốc, cao phân tử với góc nhiễu xạ 2 theta từ: – 3° đến 160° (chuyển đổi sang 2θ).
Thông số kỹ thuật
– Khoảng di chuyển: – 3o đến 160o (chuyển đổi sang 2θ)
– Bộ nguồn phát tia X: điện thế: 10 – 60 kV, dòng: 5 – 60 mA
– Ống phát tia X: loại bước sóng: Cu K – anpha, cực anode: Cu (Đồng)
– Máy gồm 4 phần chính:
Phần 1. Bộ nguồn phát xạ tia và ống phát xạ X:
– Bộ nguồn phát tia X: điện thế: 10 – 60 kV, dòng: 5 – 60 mA
– Ống phát tia X: loại bước sóng: Cu Kalpha 1.540 Angstrom Meter, cực anode: Cu
Phần 2. Hệ thống quang học kép và gương Gobell:
– Hệ quang học kép để điều khiển chùm tia tới mẫu cần đo trong vùng nhất định, loại bỏ một phần chùm tia tới không cần thiết.
– Gương Gobell là một thấu kính quang học đa lớp loại 40mm cho bức xạ Cu, tạo ra một chùm tia tới song song cao trong khi triệt tiêu bức xạ trắng, bức xạ Kß và cả huỳnh quang mẫu.
Phần 3. Bộ dịch chuyển góc, giữ mẫu đo và chuyển mẫu tự động 30 vị trí
– Cấu hình hình học được thiết kế theo kiểu dáng DAVINCI thân thiện với người dùng, có thể đo tự động 30 mẫu trong một lần đo.
Phần 4. Đầu dò
– Đầu dò LYNXEYE silicon 14.4×16 mm2 với độ phân giải năng lượng vượt trội <380 eV @8 KeV, hoạt động ở nhiệt độ phòng. Đầu dò: 0D, 1D, 2D. Dữ liệu nhiễu xạ tia X một chiều chất lượng cao có thể được thu thập nhanh hơn tới 450 lần so với việc sử dụng đầu dò thông thường được trang bị bộ đơn sắc thứ cấp.
Phần mềm
Máy nhiễu xạ Xray D8 Advance được điều khiển bằng phần mềm Diffrac.Suite: cho 2 phương pháp đo là Bragg-Brentano: cho mẫu khối, bột và gương Gobell cho mẫu màng.
Phần mềm phân tích Diffrac.EVA với thư viện phổ nhiễu xạ PDF2, PDF4 (Powder Diffraction File) bao gồm 40.000 phổ chuẩn các vật liệu hữu cơ, vô cơ và khoáng chất của Trung tâm quốc tế về cơ sở dữ liệu phổ nhiễu xạ Xray (ICDD).
Phần mềm phân tích TOPAS: Phân tích phổ nhiễu xạ, phân tích định lượng, phân tích cấu trúc của vật liệu.
Thông tin liên hệ
Phòng Quản trị thiết bị
Tel: (+84-24) 37 91 8510
Email: emd@usth.edu.vn
Địa chỉ: Phòng 718, tầng 7, tòa A21, Trường Đại học Khoa học và Công nghệ Hà Nội
