Atomic force Microscopy (AFM)

Model: MFP-3D

Nhà sản xuất: Oxford Instruments

Xuất xứ: Mỹ

Mô tả

MFP3D Origin System bởi hãng Asylum Research-Oxford Instruments

Kính hiển vi nguyên tử lực AFM đo được hình ảnh có độ phân giải cao trong cả môi trường không khí và chất lỏng.

Máy quét vòng kín đơn để mở rộng phạm vi từ quét độ phân giải nguyên tử cho đến micron.

Đo ở cách chế độ: tiếp xúc, không tiếp xúc, tapping,

Gói hệ thống bao gồm:

Đầu AFM: quang học làm lệch hướng công xôn có độ ồn thấp, máy quét Z, cơ chế ăn khớp chính xác và quang học từ trên xuống.

Thông số đầu:

Phạm vi Z ≥15 μm (tùy chọn đến ≥40 μm)
Cảm biến Z nhiễu ≤0,25 nm
Cảm biến lệch hướng cantilever sử dụng cấu hình đảo ngược (chùm tia tới lệch phương thẳng đứng) để giảm đáng kể hiện tượng nhiễu do ánh sáng phản xạ bởi mẫu.
Đi-ốt siêu phát quang nguồn sáng
Nguồn sáng hồng ngoại kết hợp thấp ≤ 860 nm theo tiêu chuẩn quốc tế
Tiếng ồn máy dò DC ≤15 pm

Hiệu suất hệ thống độ phân giải cao:

Máy quét AFM

Quét mẫu vòng kín với giai đoạn uốn điều khiển áp điện có độ ồn thấp.

Thông số kỹ thuật của máy quét:

Cơ sở quang học AFM

Nhìn từ trên xuống với camera CCD tích hợp để xem công xôn và mẫu.
Mục tiêu ≥ 10X
Trường nhìn có thể chuyển đổi giữa 720 và 240 micron hoặc cao hơn.
Giai đoạn định vị mẫu tích hợp cho phép căn chỉnh chính xác đầu dò AFM trên vùng quan tâm mong muốn.

Phần mềm điều khiển:

Tự động phát hiện và cấu hình các thành phần hệ thống để nhận được kết quả nhanh chóng
Tự động cấu hình phần mềm cho chế độ đã chọn
Tự động hiệu chỉnh hằng số và độ nhạy của lò xo công xôn mà không cần công xôn chạm vào bề mặt
Tự động thiết lập các thông số tối ưu để chụp ảnh chế độ khai thác

Chế độ tiêu chuẩn AFM: Bổ sung đầy đủ các chế độ vận hành cho vận hành chất lỏng và không khí (phụ thuộc vào các mẹo đã chọn), bao gồm

Gói cách ly âm thanh và rung động.

Phòng Quản trị thiết bị

Tel: (+84-24) 37 91 8510

Email: emd@usth.edu.vn

Địa chỉ: Phòng 718, tầng 7, tòa A21, Trường Đại học Khoa học và Công nghệ Hà Nội